学术讲座
报告题目：X射线谱学技术的发展和实验室型XAFS的应用
报告时间：2024-01-12 09:30
报告人： 余灿 博士
中国科学院高能物理研究所
报告地点：卢嘉锡楼202报告厅
转播地点：翔安校区能源材料大楼3号楼会议室6
报告摘要：
X射线谱学技术可以获得精确的电子结构信息和几何机构信息，而且具有元素选择性，几乎可以测试所有形态下的样品（固、液、气）。X射线谱学技术常用于表征配位结构信息，比如键长、配位数、配位原子类型等等，也可以获得氧化态、自旋等电子结构信息。这些结构信息都是我们日常科学研究非常重要的。因此，X射线谱学技术广泛应用于化学化工、催化、能源、纳米、环境等各个领域，也是近年来发展最快的表征技术之一。近年来，同步辐射大科学装置上各种空间分辨、时间分辨、能量分辨技术迅速发展，给我们带来微观世界观测的全新手段，推动着各个领域的基础研究的发展。目前，基于实验室源的XAFS仪器已经发展成熟，可以获得接近同步辐射这样的大科学装置相同的数据质量，随时随地实现XAFS测试，缩短我们的研究周期。
报告人简介：
余灿博士，2020年毕业于中国科学院高能物理研究所。2020年至今在高能所北京同步辐射工作，担任建设中的高能同步光源束线科学家。长期致力于X射线谱学技术实验方法和应用发展，在国内建立一套激光泵浦-X射线探测的超快时间分辨系统，实现百皮秒的时间分辨能力，可以拍摄化学反应过程中的分子电影。同时，也建立多种X射线谱仪，包括高能量分辨X射线吸收谱和X射线发射谱等等。同时致力于X射线技术的小型化，实验室化的仪器研发，推出商业化的实验室XAFS仪器.
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